渦流法（非磁性金屬集體上非導電覆蓋層厚度測量）

1.標準：GB/T 4957─1985，本標準規(guī)定了使用渦流儀器無損測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度的方法，該方法適用于測量大多數(shù)陽極氧化覆蓋層的厚度，但不適用于測量所有薄的轉化膜。

2.測量原理：渦流測厚儀的測厚裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場，使置于測頭下面的導體產(chǎn)生渦流，其振幅和相位是導體與側頭之間的非導電覆蓋層厚度的函數(shù)。

      磁性法（磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量）

1.標準：GB/T 4956─1985，本標準規(guī)定了使用磁性測厚儀器無損測量磁性金屬基體上非磁性（包括釉瓷和搪瓷）覆蓋層厚度的方法，該方法適用于平試驗上的測量，不適用于非磁性基體上覆蓋層的測量。

2.測量原理：磁性測厚儀是測量永久磁鐵（側頭）和基體金屬之間由于存在覆蓋層而引起磁引力的變化，或者是測量通過覆蓋層與基體金屬磁路磁助的變化。

    推薦儀器：涂層測厚